J-STAGEに公開されました（International Journal of Affective Engineering Vol.15 No.4）

International Journal of Affective Engineering Vol.15 No.4がJ-STAGEに公開されました 。

Special Issue on ICBAKE 2015

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Original Articles

A Study of Cancelable Biometrics in the Security Improvement of Biometric Authentication System using Fault Tree Analysis／Sanggyu SHIN, Yoichi SETO and Shogo SHIMIZU／pp. 351-359